12月9日，应强磁场中心盛志高研究员邀请，美国加州大学河滨分校助理教授崔永涛访问强磁场科学中心，并作了题为Visualizing Emergent Interface Electronic States in Quantum Materials的学术报告。报告吸引了强磁场、固体所等多个单位师生的参加。
低维电子体系（比如薄膜、材料界面等）为发现新型电子态提供了有力的研究基础。空间分辨电子探头能够在介观尺度上直接探测这些态，弥补了传统输运技术的不足。在本次报告中，崔永涛教授介绍了能够在纳米尺度上表征材料电容电导的扫描探针技术——微波阻抗显微镜（MIM）。他详尽介绍了微波阻抗显微镜在二维电子态上两项代表性工作，一项是通过MIM探究了Nd2IrO7的筹壁，另一项是通过MIM探究了一些二维拓扑体系的边缘电导。很多师生对这一新型探测手段非常感兴趣，并希望能够进一步讨论寻找合作机会。
崔永涛教授于2005年毕业于北京大学，于2011年在美国康奈尔大学获得博士学位，然后在斯坦福大学做博士后。2016年夏季到美国加州大学河滨分校担任助理教授。
